Mejia Cabrera, I., y F. Sialer Ayala. «COMPARACIÓN E TÉCNICAS ESTEGANOGRÁFICAS E OMINIO SPACIAL OMINIO RECUENCIAL N IMÁGENES IGITALES». INGENIERÍA: iencia, Tecnología Innovación, vol. 2, n.º 2, diciembre de 2015, p. 41, doi:10.26495/icti.v2i2.257.