Mejia Cabrera, Ivan, y Fernando Sialer Ayala. «COMPARACIÓN E TÉCNICAS ESTEGANOGRÁFICAS E OMINIO SPACIAL OMINIO RECUENCIAL N IMÁGENES IGITALES». INGENIERÍA: Ciencia, Tecnología e Innovación 2, no. 2 (diciembre 4, 2015): 41. ccedido julio 22, 2024. https://revistas.uss.edu.pe/index.php/ING/article/view/257.